現(xiàn)今在磁粉探傷中一般選用高斯計及毫特斯拉計來檢測磁粉探傷儀或磁粉探傷機、退磁機的退磁效果，那么這類檢測退磁的計量儀器它們的原理是什么呢？

我們現(xiàn)在對于工件表面的剩磁要求是低于2GS，對于這么小的數(shù)值，需要比較靈敏的元器件來檢測，在最早是利用霍爾傳感器來檢測。

其原理是通電的片狀N型半導體的平面與磁場強度為H的磁場相互垂直，后在片狀N型半導體的非通電側形成霍爾電位差UH，其三者之間的關系為UH=RHμHI/δ，其中δ為半導體板的厚度，RH霍爾系數(shù)，μ為磁導率。

利用此原理制成的高斯計及毫特斯拉計測量精度高，測量結構簡單，可直觀顯示缺陷磁場的大小和方向。

后期又發(fā)現(xiàn)可以利用磁敏二極管來代替霍爾傳感器制成精度更高的高斯計及毫特斯拉計。

其原理是磁感應強度在0.1T以下時，磁敏二極管輸出特性曲線近似線性關系，其性能相當于普通二極管的PN結特性。

利用此原理制成的高斯計及毫特斯拉計測量精度更高，測量結構簡單。

以上就是磁粉探傷中一般選用高斯計及毫特斯拉計來檢測磁粉探傷儀或磁粉探傷機、退磁機的退磁效果的原因。

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